多通道導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)制造，可在低高溫交替的溫度循環(huán)環(huán)境中，采用4端子測試法，對焊點、連接器接點等導(dǎo)體連接部位開展多通道高準(zhǔn)度微小電阻連續(xù)監(jiān)測，以此評估電子裝配工藝的規(guī)范性及材料本身的連接可靠性。配套操作軟件可實現(xiàn)測量過程的自動化運行，實時采集并記錄各項測試數(shù)據(jù)，通過圖表直觀呈現(xiàn)微小電阻的動態(tài)變化趨勢及試驗箱的溫度波動情況，同時支持通過LAN接口進行遠程數(shù)據(jù)處理，助力用戶完成連接可靠性的在線評估與分析。

產(chǎn)品特點

1.配備自主開發(fā)的多光束掃描方式及符合標(biāo)準(zhǔn)的測試儀

2.直流測量抗干擾能力強

3.能夠通過2種方法判定故障

4.可通過計算機進行實時測定，可在測定過程中編輯、瀏覽數(shù)據(jù)

5.通過與環(huán)境試驗箱聯(lián)動，大幅度增加試驗效率

產(chǎn)品優(yōu)勢

抗干擾能力強

不受交流信號的寄生電容、電感、線纜電抗影響，尤其適合長線束、大電流端子、高頻器件測試

貼合實際工況多數(shù)產(chǎn)品工作在直流 / 低頻，直流測量結(jié)果與發(fā)熱、壓降、功率損耗直接對應(yīng)，具有工程參考價值

適用范圍廣

可測金屬、焊料、ACF、導(dǎo)電膠、連接器、繼電器、PCB 等導(dǎo)電 / 連接結(jié)構(gòu)，通用性強

穩(wěn)定易控制

小電流即可實現(xiàn)高準(zhǔn)度測量，不易損傷器件、不引發(fā)發(fā)熱漂移，對芯片、FPC 等器件友好

產(chǎn)品參數(shù)

測試通道：128通道（可定制至960通道）

測試量程：1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ、100kΩ、1MΩ以及AUTO

分辨率：100μΩ

測量范圍：1×10^-3-1×10⁶Ω

環(huán)境箱：適配多種型號

應(yīng)用領(lǐng)域

1. PCB 與封裝焊接類

印刷電路板通孔導(dǎo)通評估

焊料連接性評估

BGA、CSP 焊料連接性評估

2. 元器件可靠性類

連接器接觸電阻評估

開關(guān)、繼電器等各種接觸電阻評估

芯片電容器接合可靠性評估

3. 柔性線路與特殊材料類

FPC 耐用性評估

導(dǎo)電膠粘劑、異方性導(dǎo)電膜 (ACF) 接合性評估

4. 通用連接結(jié)構(gòu)類

各種金屬接合部分評估

各種連接材料的連接性評估